一、 導(dǎo)通阻抗

將某一條連接線(xiàn)切到定電流源遠(yuǎn)流(Ic)，另外一端接地(GND)，端讀取測(cè)試電壓(Ｖtest)。

二、 絕緣阻抗

將某一條連接線(xiàn)切到電壓原(ＶH)，其它的線(xiàn)全部接在一起，切到Ｒs端讀取測(cè)試電壓Ｖtest。

將每一條線(xiàn)皆經(jīng)由上述原理測(cè)試，直到所有的線(xiàn)都測(cè)完為止，若有錯(cuò)誤則顯示出來(lái)。

DC電壓越高，絕緣電阻越高。

三、 短路端點(diǎn)判斷

當(dāng)有短路現(xiàn)象發(fā)生時(shí)(如圖所示)，則再做四次導(dǎo)通阻抗測(cè)量。

(1)         A01切到定電流源，其它點(diǎn)接地，測(cè)量A01導(dǎo)通量。

(2)         A02切到定電流源，其它點(diǎn)接地，測(cè)量A02導(dǎo)通量。

(3)         B01切到定電流源，其它點(diǎn)接地，測(cè)量B01導(dǎo)通量。

(4)         B02切到定電流源，其它點(diǎn)接地，測(cè)量B021導(dǎo)通量。

如圖所示，A01及A02導(dǎo)通量最好，因此A01及A02短路。

 四、    斷路端點(diǎn)判斷

當(dāng)有斷路現(xiàn)象發(fā)生時(shí)(如圖所示)，則再做二次天線(xiàn)噪聲量測(cè)量。

（1）A01無(wú)天線(xiàn)效應(yīng)，所以雜訊量小。

（2）B01有天線(xiàn)效應(yīng)，所以雜訊量大；因此A01為斷路。

 五、        測(cè)試模式說(shuō)明：

1. 模式一：奇對(duì)偶：(以8回路為例，以下類(lèi)同)

指的是非地線(xiàn)對(duì)指定的地線(xiàn)之間做絕緣測(cè)試，其優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試速度快，缺點(diǎn)是非地線(xiàn)與非地線(xiàn)之間沒(méi)有絕緣測(cè)試，一般情況下不采用此種模式。

 2. 模式二：所有對(duì)地(如選擇A8點(diǎn)為地)

指的是非地線(xiàn)對(duì)指定的地線(xiàn)之間做絕緣測(cè)試，其優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試速度快，缺點(diǎn)是非地線(xiàn)與非地線(xiàn)之間沒(méi)有絕緣測(cè)試，一般情況下不采用此種模式。

3.模式三：二分快速

其測(cè)試方法為每次測(cè)試都把線(xiàn)材分成兩組分別加正負(fù)電壓來(lái)做絕緣測(cè)試，它測(cè)量次數(shù)與設(shè)定的測(cè)試點(diǎn)數(shù)有關(guān)，如圖，設(shè)定為2點(diǎn)只做1次測(cè)試，設(shè)定4點(diǎn)時(shí)測(cè)試2次。

  4.     模式四：一對(duì)其它

測(cè)試方法是線(xiàn)材的一個(gè)點(diǎn)對(duì)其它全部的點(diǎn)做絕緣測(cè)試，線(xiàn)材的每一個(gè)點(diǎn)都會(huì)一一做這樣的測(cè)試，其優(yōu)點(diǎn)是儀器能查出第一點(diǎn)的絕緣及解壓值且可以全部顯示，精準(zhǔn)度較高，缺點(diǎn)是測(cè)試速度較慢，操作時(shí)建議把模式三及此模式同時(shí)打開(kāi)。

六、       測(cè)試過(guò)程中常見(jiàn)問(wèn)題：

1.      斷路：

原因：A.治具  B.線(xiàn)材  C.儀器

2.      導(dǎo)通不良：

原因：

A.     治具接觸電阻大

B.     治具與線(xiàn)材的接觸電阻

C.     儀器內(nèi)阻(歸零解決)

3.      絕緣不良：

原因：

A.     治具較臟，濕度大

B.     線(xiàn)材材料與制作工藝問(wèn)題

C.     儀器Relay板較臟，可作空測(cè)或清潔工作

 七、儀器使用注意事項(xiàng)

1. 轉(zhuǎn)接線(xiàn)愈短愈好，其影響導(dǎo)通、單邊靈敏度、絕緣度

2.轉(zhuǎn)接頭要經(jīng)常更換，其影響導(dǎo)通、瞬斷

3. 治具及轉(zhuǎn)接頭隨時(shí)保持清潔，影響絕緣

八、CT-8681|CT-8683|CT-8685|CT-8687|CT-8691不良原因分析

　　1.OPEN       A01：B01▼           開(kāi)路（箭頭指向開(kāi)路點(diǎn)在B端）

　　2.SHORT      A01-B01              短路

　　3.M.W        A01×B01             錯(cuò)位（注）

　　4.×COND    A01*B01 3.1?         導(dǎo)通過(guò)大(超過(guò)設(shè)定值)

　　5.×COND    A01*B01 HILIMIT      導(dǎo)通超大(超過(guò)機(jī)器值)

　　6.OPEN      A01： B01 (INTERM)    瞬間開(kāi)路不良

　　7.SHORT     A01：B01 (INTERM)    瞬間短路不良

　　8.×INSUL   ( M U S)   LOW LIMIT     絕緣不良

　　9.×INSUL   ( M U S)  ARCING        DC高壓不良

　　10.×HIPOT   ( M U X)  〉0.50MA        漏電流不良

　　11.×HIPOT   ( M U X)  ARCING        AC高壓不良

注：第3項(xiàng)不可分辯錯(cuò)位（誤配）端點(diǎn)，即此顯示不表示在A01、B01點(diǎn)誤配。如果您在這方面有任何疑問(wèn)可以與我們聯(lián)系，我們會(huì)給您最專(zhuān)業(yè)的解釋?zhuān)?/span>